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分析测量电子元器件过程中产生误差的原因

来源:http://taiheth.com 作者:taiheth 2012年11月17
    晶振是众多元器件中的一小部分,测量电子元器件的工作体现在数量大、速度快,在电子元件生产厂中,由于生产的元件数量很大,因此测量的工作量也很大。这就要求测量具有高速度。而电子元件测量是通过电磁波和电子的运动来实现对元件进行测量的,因而可以实现元件测量过程的高速度。

  频率范围广泛,电子元件测量的频率范围从零到几十吉赫以上。晶振的频率从KHZ到MHZ,在不同的频率范围内,所采用的测量方
法和测量仪器不同。例如在不同频率(如高频、低频、超低频)下,对电容器的容量和介质损耗角正切的测量,所采用的测量方法和测量仪器就有所不同。
量程范围宽
电子元件测量仪表的量程范围很宽。例如:一只欧姆表可以测量几欧到几兆欧的电阻值。
通常测量一些电子元器件会带来一些误差,而测量误差产生的原因是各式各样的,要完全掌握和消除所有的测量误差也是不可能的。
研究误差理论的目的,就是要根据误差的规律,在一定的测量条件下尽力设法减小误差,保证研究课题与产品的质量,并根据误差理论合理地设计和组织实验,正确地选用仪器、仪表和测量方法,正确地进行测量
一、测量误差的来源
装置误差
由测量仪器和设备所引入的误差即为装置误差。例如电桥中的标准电阻,天平的砝码,示波器的探极线等都含有误差。仪器、仪表的零位偏移、刻度不准确以及非线性等引起的误差均属此类。
环境误差
环境误差是指由环境条件与所要求的标准状态不一致等造成的误差,主要是外界的温度、湿度、气压、电磁场、辐射等影响所产生的误差。例如,数字式电压表的技术指标中常常单独给出的温度影响误差就属于此类。
方法误差
方法误差是指测量时使用的方法不完善,或者依据的理论不严密,采用近似公式,对某些经典测量方法作不适当的修改等所产生的误差。
人身误差
由于测量者的分辨能力、视觉疲劳、固有习惯或缺乏责任心等引起的误差称为人身误差。例如读错刻度,念错读数,操作不当等。这种误差往往因人而异。在测量工作中,对于误差的来源必须认真分析,采取相应措施,以减小误差对测量结果的影响。

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