晶体匹配电路参数测试
来源：http://taiheth.com 作者：泰河电子工程部 2019年08月15
在晶振电路的研究中，晶体单元安装在客户的电路板上，并确认与晶体元器件相匹配，并提出了适当的条件。如果在匹配过程中出现不适合的可能会导致市场出现意外问题，如非振荡，频率偏差和启动失败，为了避免这些麻烦又耽误事情的问题出现也为了可以实现稳定的振荡，我司可以提出最佳匹配的系统。针对目前进行的电路调查，已有超过70%的案例提出了改变。如果有必要，我们将建议更改晶体单元规格，要使用IC和电路常数、
在检查振荡器电路和晶体单元之间的匹配时，要了解到什么样的状态是较为适当的，可以从以下的观点来评估。
1.水晶振荡子是否稳定的振荡
2.频率是否准确
3.是否发生异常
（例如:频率比预期偏差，在常温下以稳定的频率进行振荡，但频率在低温下或高温下跳跃）
在上述匹配评估中使用以下三个指标
1.水晶振荡子是否稳定的振荡⇒负性电阻
2.频率是否准确⇒振荡频率的差异
3.是否发生异常⇒驱动电平
使用这些指标进行评估，并在最佳振荡条件下试验电路常数（电容和电阻值）。
在检查振荡器电路和晶体单元之间的匹配时，要了解到什么样的状态是较为适当的，可以从以下的观点来评估。
1.水晶振荡子是否稳定的振荡
2.频率是否准确
3.是否发生异常
（例如:频率比预期偏差，在常温下以稳定的频率进行振荡，但频率在低温下或高温下跳跃）
在上述匹配评估中使用以下三个指标
1.水晶振荡子是否稳定的振荡⇒负性电阻
2.频率是否准确⇒振荡频率的差异
3.是否发生异常⇒驱动电平
使用这些指标进行评估，并在最佳振荡条件下试验电路常数（电容和电阻值）。
术语解说
负性电阻-R：通过消除晶体单元的电阻R来振荡电路的能力
振荡频率-F：取决于负载电容的特性CL
驱动电平DL：晶体单元的电阻R耗电量
负性电阻-R：通过消除晶体单元的电阻R来振荡电路的能力
振荡频率-F：取决于负载电容的特性CL
驱动电平DL：晶体单元的电阻R耗电量
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